氦質(zhì)譜正壓檢漏法

　　正壓檢漏的方法很多,比如:氣泡法,鹵素吸槍法,鹵素?zé)舴?氦質(zhì)譜檢漏儀吸槍法,四極質(zhì)譜吸槍法,同位素法??而靈敏度較高、用的較廣的是氦質(zhì)譜檢漏儀吸槍法。

1.1、壓力及介質(zhì)種類對(duì)漏率的影響

　　盡量模擬工況是檢漏工作者的努力方向。100 %模擬是困難的,有時(shí)甚至是不可能的。比如:高壓、高溫、低溫??有的產(chǎn)品在檢漏設(shè)計(jì)時(shí)只允許低壓、常溫,而工作時(shí)卻在不同部位同時(shí)出現(xiàn)高壓、高溫和低溫狀態(tài)。

1.2、氦質(zhì)譜檢漏儀吸槍法

　　氦質(zhì)譜檢漏儀吸槍法有二種方式,即移動(dòng)嗅探式和氦罩累積式。前者只能定性檢測(cè)大漏,后者則可定量檢測(cè)微漏。只要具有一個(gè)適合的正壓校準(zhǔn)漏孔,給出漏率、校準(zhǔn)溫度、溫度系數(shù)、氣體種類和不確定度等,就可以測(cè)量并計(jì)算出工況下的漏率。在用吸槍探測(cè)中應(yīng)保持吸槍小孔環(huán)境的清潔,濕度大時(shí)不宜直接在低溫環(huán)境中探測(cè),否則會(huì)造成吸槍小孔的阻塞,給出的檢漏結(jié)果過(guò)于樂(lè)觀,造成漏率偏小的假象,這是十分危險(xiǎn)的,必須要經(jīng)常用正壓校準(zhǔn)漏孔進(jìn)行比對(duì)。

1.2.1、吸槍移動(dòng)嗅探法

　　將吸槍用軟管接到氦質(zhì)譜檢漏儀上,并與檢漏儀一起調(diào)整到較好的檢漏狀態(tài)。首先用吸槍對(duì)正壓校準(zhǔn)漏孔出氣口進(jìn)行掃描,注意吸槍口與正壓校準(zhǔn)漏孔出氣口的距離和移動(dòng)速度。在正壓檢漏時(shí)要以類似的距離和移動(dòng)速度進(jìn)行嗅探,然后用信號(hào)比對(duì)法判定大致漏率,這種方法可以較準(zhǔn)確定位漏孔。必要時(shí)要進(jìn)行壓力、溫度和濃度等修正。

1.2.2、氦罩累積法

　　如果被檢件漏率很小,直接用吸槍移動(dòng)嗅探法得不到信號(hào),必須用氦罩累積法。在正壓檢漏時(shí),小被檢件可以用氦罩整個(gè)罩住;大而復(fù)雜的被檢件可用多個(gè)小罩局部罩住待檢部位。用吸槍探測(cè)出罩內(nèi)本底和累積信號(hào),扣除本底后即為累積凈信號(hào),采用下述公式進(jìn)行計(jì)算

　　氦罩要專門(mén)設(shè)計(jì),一般用金屬制作(塑料布在長(zhǎng)時(shí)間累積中滲透量太大) 。如果累積時(shí)間短,也可用0.10～0.15 mm 的塑料布制作。檢測(cè)時(shí)氦罩應(yīng)盡量小,以便提高氦的壓升率。氦罩要密封。探測(cè)口要方便檢測(cè)。檢漏過(guò)程中,儀器靈敏度和吸槍在校準(zhǔn)后不得進(jìn)行調(diào)整,否則要重新進(jìn)行校準(zhǔn)。吸槍不應(yīng)一直插在檢測(cè)口內(nèi),以免影響累積信號(hào)。在低溫探測(cè)時(shí),環(huán)境濕度應(yīng)盡量降低,被檢件應(yīng)先加高壓示漏氣體而后降溫,以免小孔阻塞。

　　氦質(zhì)譜正壓檢漏法在火箭發(fā)動(dòng)機(jī)、星用高壓氣瓶、飛船零部件等檢漏中得到成功應(yīng)用并正在擴(kuò)大,但有待進(jìn)一步研究和提高,為我國(guó)航天事業(yè)的發(fā)展和產(chǎn)品質(zhì)量的提高作出更大貢獻(xiàn)。